Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation TechniquesFunktionstests an integrierten Schaltungen sind f1 4r deren Zuverlssigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Prparationstechniken f1 4r die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erlutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zur1 4ckverfolgen von Ausfllen ermglichen. Author: Friedrich Beck Publisher: Wiley Published: 02 04 1998 Pages: 190 Binding
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Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques